RTD晶圓測溫wafer

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RTD晶圓測溫wafer

產品詳情

● 高精度晶圓測溫系統

● ±0.1℃ @ -40℃ 至 250℃ (超低溫可定製)

● Front Track Systems

● Hot Plates

● Cold Plates

● HMDS Chambers

“RTD-低溫/高精度-儀表化晶圓電阻溫度探測器(RTD)-最高溫度240 C 儀器化晶圓rtd工作原理是在一定的溫度範圍內,某些金屬的電阻以可重複和可預測的方式增加或減少◕↟☁↟✘。 與熱電偶晶片相比,RTD的儀器晶片具有更高的精度和更高的穩定性,為監控半導體制造裝置提供了額外的選擇◕↟☁↟✘。

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